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中国科学院港大深圳集成所:日盲紫外及可见双光谱电晕巡检仪——“电晕”无处可逃!

新闻来源:特约评论员 发布日期:2015-11-13

  人类进入电气时代后,开始享受“电”带来的便利,也开始出现一系列相关问题,其中就包括电力设备在长时间处于大气环境下产生的电晕放电现象。电晕放电不仅会造成线路的功率损失,而且还会引起输电线路、电力设备的腐蚀和损坏。而电晕放电发出日盲(240-280nm)波段的紫外光,在可见光波段能量非常微弱,观测困难;而单独采用紫外探测器则会因为缺少背景信息而无法定位。

  在即将开幕的第十七届高交会上,中国科学院香港中文大学深圳先进集成技术研究所将带来一款可精准定位的电晕检测仪——“日盲紫外/可见双光谱电晕巡检仪”,让检测不再困难,“电晕”无处可逃!

 

 图为日盲紫外/可见双光谱电晕巡检仪实物图(图片由中国科学院香港中文大学深圳先进集成技术研究所提供)

  “日盲紫外/可见双光谱电晕巡检仪”通过独特的探测器设计、滤光设计、光学传输设计和融合算法研究等,利用探测日盲(240-280nm)紫外波段信号识别电晕,使其能够在强烈的日光下探测到微弱紫外信号。通过与可见光谱的融合,能实现双谱成像,并对电晕位置进行形象、直观的准确定位,各项性能指标均达到国际先进水平,避免了因为单独采用紫外探测器而缺少背景信息无法定位的尴尬场面出现。

  该仪器可以通过对电晕和电弧位置的精准定位,指示问题位置,评估受测体情况及其严重性程度,来协助预测必然性危机,可以全天候的用于电力、电器、工厂、铁路等线路、设备的巡检。

  (欢迎光临第十七届高交会参展商——中国科学院深圳先进技术研究院深圳先进集成技术研究所参观,展位:深圳会展中心5号馆C09-1展位)

  特约评论员:徐雨朦

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